电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）通过将样品在电感耦合等离子体中激发，使元素发射特征谱线，测定谱线强度进行定量分析。钾元素的特征谱线为766.49 nm，通过测定该波长处的光强度确定钾含量。